Trait de regard, retrait de garde – tracer sur l’image photographique
Expositions

Trait de regard, retrait de garde – tracer sur l’image photographique

Université Paris 8 / Département Photographie, Saint-Denis

Cette journée d’étude explore les liens entre dessin et photographie à travers des pratiques artistiques qui interviennent directement sur l’image photographique. Elle interroge le dessin sur photo :…

Date

jeudi, 27 mai 2027 à 09:00
Fuseau : Europe/Paris

Lieu

Université Paris 8 / Département Photographie

2 rue de la Liberté, 93200 Saint-Denis · Saint-Denis

Itinéraire

À propos

Cette journée d’étude explore les liens entre dessin et photographie à travers des pratiques artistiques qui interviennent directement sur l’image photographique. Elle interroge le dessin sur photo sous deux angles : comme geste qui révèle la matérialité de l’image et remet en question son apparente neutralité, mais aussi comme expérience physique et cognitive engageant le corps, la perception et l’imagination de l’artiste. Chercheur·euses, artistes et critiques réfléchiront ensemble à la photographie comme espace d’inscription, de transformation et de négociation du réel. Conçue selon des méthodes de recherche par l’art, cette rencontre prendra la forme d’une exposition animée où œuvres, discussions et expérimentations feront de l’espace un terrain d’enquête collectif ouvert au public. Les discussions et analyses de cette journée d'études prolongeront les propositions de l'exposition « Eclipse » d'Anne Favier, présentée au Drawing Lab de Paris du 25 septembre 2026 au 3 janvier 2027. La journée d'étude est produite en collaboration avec la revue de dessin contemporain Roven, qui publiera un dossier thématique sur le sujet à l'automne 2027. Responsable : J. Emil Sennewald

Trait de regard, retrait de garde – tracer sur l’image photographique

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